功率器件芯片：如何測量芯片優劣

本期文(wén)章由上海藤谷電(diàn)子科(kē)技(jì )有限公司講解如何測芯片功率器件芯片功率器件芯片優劣

如何測量功率器件芯片優劣：
1. 查驗MCU是不是毀壞或flash無法打開，是換塊新(xīn)的芯片試一下。

2. 查驗供電(diàn)系統：立即用(yòng)萬用(yòng)表測量VCC和GND的脈沖信号，是不是符合規定。假如VCC偏移9V或3.3V過多(duō)，查驗7805或别的穩壓管、低通濾波器的輸出。

3. 查驗晶振電(diàn)路…… 這一我不知道怎麽檢查晶振電(diàn)路優劣，我的方式較為(wèi)土：一般是多(duō)換好多(duō)個晶振電(diàn)路通電(diàn)試一下，總之石英晶振不值得很(hěn)多(duō)錢。
 
4. 查驗RESET腳位脈沖信号邏輯性，留意常用(yòng)型号是上拉電(diàn)阻校準還是低電(diàn)頻校準的，假如MCU一直處在不斷被校準情況，呵呵呵，結果顯而易見。智能(néng)電(diàn)子秤方案

5. 假如設計方案時，程序流程是以拓展的外界ROM運行的，還需查驗EA腳。

以上就是上海藤谷電(diàn)子科(kē)技(jì )有限公司對如何測量芯片功率器件芯片優劣簡單講解，我司依托科(kē)研院所，從事半導體(tǐ)集成電(diàn)路設計開發，電(diàn)子元器件，功率器件相關芯片，陶瓷覆銅闆的研發與應用(yòng)，以及相關半導體(tǐ)設備，材料的技(jì )術支持，銷售。